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AKT® 電子束陣列測試

AKT EBT TFT 陣列測試儀能夠以最小的機械運動實現高可靠性、低預定停機時間和低運作成本。電子束陣列測試系統具備快速、大面積光束定位功能,可讓多個電子束並行,從而實現高產能。極致的小光束點尺寸和精確的光束定位性能使得超高解析度應用成為可能,且不會隨著顯示器解析度的提高而使像素尺寸的進一步減小受到限制。該系統的非接觸式測試技術可確保對高價值 LCD 和 OLED 面板進行安全的測試不會損壞或劃傷顯示器。